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半导体PN结知识小记

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概念

能级的一些概念

硅的能级图(E-k) 图长下面这个样子:

si_banddiagram

图中涉及太多是固体物理的内容,我也不懂:

  • 横轴展示了能量随波矢(k)的变化,波矢取值沿着不同的高对称方向,如Γ、L、X、K等点。其中 Γ:布里渊区的中心,对应于k = 0。L、X、K:布里渊区的边界点,对应于特定对称方向。
  • k是布洛赫波函数的波矢,与电子的准动量直接相关(p = ℏk)。k空间,也称为波矢空间,倒易空间或动量空间,是描述晶体中电子波函数的空间,是实空间的傅里叶变换。

涉及PN结时,经常看到类似下面的图:

  • 电子向费米能量较低的材料中移动,空穴则向相反方向移动。
  • 积累空间电荷并相应地调整电势,直到费米能量在各处都相同。

pn_junction1

涉及到能级的一些术语:

  • 导带底ECE_C(Conduction Band Minimum):导带底是导带中最低的能量状态。导带是半导体或绝缘体中电子可以自由移动的能带。
  • 价带顶EVE_V(Valence Band maximum):价带顶是价带中最高的能量状态。价带中的电子一般在较低能量状态下被束缚,不能自由移动。价带顶是电子最容易被激发到导带的位置
  • 费米能级EFE_F(Fermi Level):是在绝对零度(0K)下,电子占据能量状态的最高能量水平。在不同的温度下,它表示能量为该值的状态有50%几率被电子占据。费米能级在N型和P型半导体中位置不同。
    • 在本征半导体中位于导带和价带的中间;
    • 在N型半导体中因导带的电子浓度较高,费米能级靠近导带;
    • 在P型半导体中,因为价带的空穴浓度较高,费米能级靠近价带,
  • 真空能级EvacE_{vac}(Vacuum Level):电子完全脱离材料进入真空所需的最小能量基准,常用于表征材料的表面特性。
  • 本征费米能级EiE_i(Intrinsic Fermi Level):本征半导体(即未掺杂的纯半导体)中,电子和空穴浓度相等时的费米能级位置。
  • 施主能级(Donor Level):位于导带边缘之下,距离导带很近。施主杂质的电子室温下很容易被激发到导带。主要用于N型半导体,施主杂质通常是五价元素。
  • 受主能级(Acceptor Level):位于价带边缘之上,距离价带非常近。价带中电子很容易被激发到受主能级,价带中生成空穴。主要用于P型半导体,受主杂质通常是三价元素。

pn结一些概念

PN结(pn-junction)是由P型半导体和N型半导体接触形成的一种结构,具有单向导电特性。它通过在交界处形成的耗尽区(Depletion Region),也叫空间电荷区(Space Charge Region)阻止电流的自由流动。注意P区和N区都是电中性区。

biased_junction

  • 载流子 (Carriers):半导体中能够移动并传导电流的粒子,包括电子和空穴。
  • 多数载流子 (Majority Carriers):半导体中占主导地位的载流子。
  • 少数载流子 (Minority Carriers):半导体中浓度较低的载流子。
  • 扩散 (Diffusion):载流子因浓度差异自发从高浓度向低浓度区域移动。
  • 漂移 (Drift):载流子在电场作用下沿电场方向移动。(注意纵轴是电子能量,电子往能量低的地方漂移。电位方向与之相反)。

电子和空穴都趋向于它们各自的低能量位置:电子向导带的较低能量位置移动,空穴向价带的较高能量位置移动。

势垒电容、扩散电容

PN结存在两种电容:

  • 结电容(Junction Capacitance)也称为势垒电容或耗尽电容,是由PN结的耗尽区电荷积累形成的电容。它在反向偏置或弱正向偏置时较为显著。
  • 扩散电容(Diffusion Capacitance)是由于载流子在PN结的正向偏置下积累而产生的电容,主要与多数载流子的扩散相关。
特性 结电容 (Junction Capacitance) 扩散电容 (Diffusion Capacitance)
出现条件 主要在反向偏置下显著 主要在正向偏置下显著
物理机制 由于反向偏置下,PN结内的耗尽区扩展,固定正负离子产生电场,类似于平行板电容的结构 正向偏置时,少数载流子从P区扩散到N区(反之亦然),在两侧积累,形成电荷存储效应
电容与电压的关系 随着反向偏置电压增加,耗尽区宽度增大,电容减小 随着正向电流增加,少数载流子积累增多,电容增大
电流依赖性 与电流无关,主要由反向偏置电压控制 与电流密切相关,电流越大,扩散电容越大
电容值大小 通常较小,范围在皮法拉 (pF) 量级 通常较大,范围在纳法拉 (nF)微法拉 (μF)
电容变化公式 CJ=εAW C_J = \frac{\varepsilon A}{W} ,与耗尽区宽度W 成反比 CD=dQdV C_D = \frac{dQ}{dV} ,与存储的少数载流子量成正比
频率响应 主要影响高频下的响应 主要影响低频中频下的响应
典型应用场景 在反向偏置的高速开关电路和高频电路中显著 在正向偏置的二极管导通时显著,影响开关速度和信号放大
正向偏置下的表现 正向偏置时存在但不明显,通常被忽略 正向偏置时为主导电容,尤其在电荷积累显著时

温度效应

pn_temp_effect

图片来自:iitism.ac.in

特性 温度升高的影响
反向饱和电流 反向饱和电流会显著增加,大约每升高 10°C,反向饱和电流会增加一倍
正向导通电压 正向导通电压会降低,对于硅二极管,每升高 1°C,导通电压约降低 2mV(可用于测温)。
载流子迁移率 载流子的迁移率会降低,因为热振动加剧,导致电流携带粒子的移动速度减慢。
击穿电压 击穿电压会降低,温度升高使得雪崩击穿或齐纳击穿更容易发生。
结电容 结电容会变化,因为温度升高影响耗尽区宽度,反向偏置电容依赖于耗尽区的变化。
扩散电容 扩散电容会增加,因为正向偏置下,温度升高会导致更多的少数载流子注入耗尽区。
带隙能量 带隙能量会降低,硅的带隙能量每升高 1°C 大约降低 0.00023eV,使得PN结更容易导通。
热击穿(Thermal Runaway) 温度升高可能造成热失控,电流增加导致温度进一步升高,可能引发器件失效,尤其在高功率应用中。

Diode

Diode 的字面意思是“两端有通路的装置”,即它有两个电极:阳极 (Anode) 和 阴极 (Cathode),电流在其中只能沿一个方向流动。

半导体Diode可以和早期的真空管Diode做个比较

diode

历史

时间 电子管二极管 半导体二极管
1873年 爱迪生效应:托马斯·爱迪生发现热电子发射现象 -
1904年 弗莱明发明电子管二极管,用于整流交流电 -
1906年 - 皮卡德发明点接触二极管,用于无线电信号检波
1920-1940s 广泛应用于收音机、整流器、放大器等电子设备中 -
1947年 - 晶体管发明,标志着半导体元件时代的开端
1950s 仍在高功率设备中使用 半导体二极管逐渐取代电子管,成为主流整流和信号处理器件
1962年 - 发光二极管(LED)发明,开创了新的应用领域
20世纪后期 被半导体二极管和晶体管逐渐取代 半导体二极管成为现代电子设备的核心元件,广泛应用于各类电路中

特点

特性 电子管二极管 半导体二极管
导电机制 通过阴极热电子发射,电子在真空中运动 通过PN结内的载流子运动
工作环境 需要在真空中工作,通常在真空玻璃管内 基于固态半导体材料(如硅、锗)
导通电压 需要对阴极加热,导通前需要一定的启动时间 硅二极管的正向导通电压约为 0.7V,锗二极管约为 0.3V
尺寸 通常体积较大,且需要高电压供电 尺寸小,易于集成到现代电路中
寿命与可靠性 相对较短,阴极材料会老化,且加热器可能损坏 半导体材料稳定,寿命长
应用场景 早期的收音机、放大器、整流器中广泛使用,现已较少使用 现代电子设备中广泛使用,如整流、信号调制、保护电路等

参考

  • Semiconductor Physics
  • Principles of Semiconductor Devices
  • https://www.chu.berkeley.edu/wp-content/uploads/2020/01/Chenming-Hu-ch1-slides.pdf
  • https://www.physics-and-radio-electronics.com/electronic-devices-and-circuits/semiconductor-diodes/junctioncapacitance-transitioncapacitance-diffusioncapacitance.html
  • https://en.wikipedia.org/wiki/P%E2%80%93n_junction
  • https://en.wikipedia.org/wiki/P%E2%80%93n_diode
  • https://en.wikipedia.org/wiki/Band_diagram
  • https://en.wikipedia.org/wiki/Band_bending
  • 《半导体物理学》刘恩科

Science